Die Position des Massenschwerpunkts eines einzelnen gefangenen Ions wird mit hoher Präzision gemessen und zeitlich verfolgt. Unter Verwendung eines nahezu resonanten Hochfrequenzfeldes der Wellenlänge 2,37 cm und eines statischen Magnetfeldgradienten von 19 T/m wird die räumliche Position des Ions mit einer beispiellosen wellenlängenbezogenen Auflösung von 5 × 10-9 bestimmt, was einer absoluten Präzision von 0,12 nm entspricht. Messungen einer elektrostatischen Kraft auf ein einzelnes Ion zeigen eine Empfindlichkeit von 2,2 × 10-23 N/√Hz. Die Echtzeitmessung der Position eines Atoms ergänzt die etablierte Technik der Nahfeld-Rastertransmissionsmikroskopie und eröffnet einen neuen Weg, diese Methode mit einer bahnbrechenden Orts- und Kraftauflösung zu nutzen.
